Kemiallisten ominaisuuksien optinen analyysi

Kategoriat

TDLAS- ja QF-analysaattorit Raman-spektroskopiajärjestelmät Päästöjen monitorointiratkaisut Hiukkasmittauslaitteet Digitaaliset analysaattoriratkaisut Prosessikaasuanalysaattorit Ilmanlaadun mittauslaitteet Savunilmaisimet Näkyvyyden mittalaitteet Ylikorkeuden tunnistimet

product picture of the process gas analyzer ENERSIC600

Helppokäyttöiset tuotteet
Helppoja valita, asentaa ja käyttää

Tekninen suorituskyky

Helppokäyttöisyys

Mikä on FLEX?

Standardituotteet
Luotettavat, lujatekoiset ja helppoja huoltaa

Tekninen suorituskyky

Helppokäyttöisyys

Mikä on FLEX?

Laadukkaat tuotteet
Erinomainen toiminnallisuus

Tekninen suorituskyky

Helppokäyttöisyys

Mikä on FLEX?

Erikoistuotteet
Suunniteltu vaativiin sovelluksiin

Tekninen suorituskyky

Helppokäyttöisyys

Tuotekohtainen

Mikä on FLEX?

FLEX-valikoima	Tekninen suorituskyky	Helppokäyttöisyys
F L E X Fundamental-valikoima Täytä perusmittaustarpeesi	Tekninen suorituskyky	Helppokäyttöisyys
F L E X Lean-valikoima Käsittele ydinprosessejasi helposti	Tekninen suorituskyky	Helppokäyttöisyys
F L E X Extended-valikoima Optimoi prosessisi innovatiivisilla teknologioilla	Tekninen suorituskyky	Helppokäyttöisyys
F L E X Xpert-valikoima Hallitse haastavimmatkin sovelluksesi	Tekninen suorituskyky	Helppokäyttöisyys Tuotekohtainen

Tutustu tarkemmin FLEX-valikoimaan

Vertaa

ENERSIC600 process gas analyzer

Gas chromatograph for reliable custody transfer gas analysis – energy management included

Measured variables Gas components, calorific value, density, Wobbe index, molar mass, compressibility

Measuring medium Natural gas, biogas, air, H2, O2, N2

Analysis time ≥45 seconds

product picture of the emission monitoring solution GM32

Vertaa

GM32 emission monitoring solution

Measure aggressive gases directly and quickly – even in ATEX zones

Measured variables NO, NO2, NH3, SO2

Process temperature ≤ +550 °C

Ambient temperature range –20 °C ... +55 °C
Temperature change maximum ±10 °C/h

Hazardous area approvals IECEx: Ex pzc op is [ia] IIC T3 Gc
ATEX: II 3G Ex pzc op is [ia] IIC T3 Gc

JT33 TDLAS analyzer featuring closed enclosure with window

Vertaa

JT33 TDLAS gas analyzer

Reliable H₂S measurement for increased quality, process control, and asset integrity

Measuring principle TDLAS

Analyte and measurement ranges H2S (Hydrogen sulfide):
0 to 10 ppmv
0 to 500 ppmv
other ranges by request

Hazardous area approvals ATEX / IECEx /UKEx Zone 1
PESO / KTL / JPNEx Zone 1
INMETRO Zone 1
CNEx Zone 1
CSA Class I, Division 1
CSA Class I, Zone 1

Product Picture Raman Rxn2 analyzer view from front showing left side

Vertaa

Raman Rxn2 analyzer

Bridge your application from the laboratory to the process environment

Laser wavelength Starter: 785 nm
Base Model: 532 nm, 785 nm, 1000 nm
Hybrid: 785 nm

Spectral coverage Starter 785 nm: 300-3300 cm-1
Base model 532 nm: 150-4350 cm-1
Base model 785 nm: 150-3425 cm-1
Base model 1000 nm: 200-2400 cm-1
Hybrid 785 nm: 175-1890 cm-1

product picture of the emission monitoring solution Combiprobe CP100

Vertaa

Combiprobe CP100 particle measuring device

Combined measurement of dust, volume flow, pressure, and temperature

Measured variables Dust concentration (after gravimetric comparison measurement), gas velocity, gas pressure, gas temperature

Process temperature –20 °C ... +200 °C

Process pressure –70 hPa ... 10 hPa

product picture of the digital analyzer solution Monitoring Box

Vertaa

Monitoring Box digital analyzer solution

Analytical processing of status and application data

Supported products FLOWSIC200, GM32, MCS100FT, MCS200HW, MCS300P, MERCEM300Z, VICOTEC320, VICOTEC450, VISIC100SF, VISIC50SF, DUSTHUNTER SB100, DUSTHUNTER SP100, FLOWSIC100, MARSIC300, VICOTEC410, GMS800 (DEFOR + OXOR)

Data output Monitoring Box frontend
Alerts in the dashboard
Notifications via email
Data export (CSV)
Data integration into foreign systems (API)

Hosting Off-premise: https://monitoringbox.endress.com
Industrial PC, other solutions on request

Contract type SaaS (Software as a Service)

product picture of the particle measuring device DUSTHUNTER SP30

Vertaa

DUSTHUNTER SP30 particle measuring device

Measure intelligently. Reduce costs.

Process temperature -40 °C ... +220 °C

Measuring range Scattered light intensity: 0 ... 7.5 mg/m3 / 0 ... 3,000 mg/m3
Measuring ranges freely selectable; nine measuring ranges pre-configured (0 ... 7.5/15/45/75/150/225/375/1,000/3,000 mg/m3)

Conformities TÜV type test
Suitability tested acc. DIN EN 15267-1 (2009), DIN-EN 15267-2 (2009), DIN EN 15859 (2010), DIN EN 14181 (2014)
Certified for use as Dust monitor and Leak monitor for filter control downstream of dust collectors at installations requiring approval (13th BlmSchV, 17th BlmSchV, 27th BlmSchV, 30th BlmSchV, 44th BlmSchV and TA Luft)

product picture of the emission monitoring solution MARSIC300

Vertaa

MARSIC300 emission monitoring solution

Safely on the right course

Measured variables CO2, SO2, NO, NO2, CO, NH3, H2O, CH4

Ambient temperature range 0 °C ... +50 °C
Type approved up to 45 °C

Conformities MARPOL Annex VI and NTC 2008 – MEPC.177(58)
Guidelines for exhaust gas cleaning systems – MEPC.340(77)
Guidelines for SCR reduction systems – MEPC.198(62)
DNV Rules for Type Approvals (2012)
IACS E10 and Rules of major classification societies

product picture of the gas analyzer MCS200HW

Vertaa

MCS200HW emission monitoring solution

Proven measurement technology for flue gas monitoring

Measured variables CH4, CO, CO2, Corg, HCl, H2O, NH3, NO, NO2, N2O, O2, SO2

Ambient temperature range +5 °C ... +50 °C

Process temperature ≤ +550 °C

product picture of the process gas analyzer MCS300P

Vertaa

MCS300P process gas analyzer

Simultaneous process monitoring of up to 6 measuring components

Measuring range More than 60 measuring components available (depending on concentration and sample gas composition)
Up to 6 components simultanously
2 measuring ranges per component
Automatic measuring range switching (adjaustable)
2 limit values per component
Measuring ranges depend on application and combination of measuring components

Tarvitsetko apua optisen analyysijärjestelmäsi valinnassa?

Autamme sinua valitsemaan, mitoittamaan ja konfiguroimaan mittaustehtäviisi ja sovelluksiisi parhaiten sopivat laitteet.

Ota yhteyttä meihin

Kemiallisten ominaisuuksien optinen analyysi

Kemiallisen prosessin monitorointi, mittaus ja ohjaus on tärkeää prosessin kehityksen nopeuttamiseksi, prosessin tehokkuuden parantamiseksi, prosessiturvallisuuden parantamiseksi ja tuotelaadun varmistamiseksi. Maailman johtavat optiset analyysijärjestelmämme auttavat asiakkaita optimoimaan tärkeimmät teollisuusprosessit ja valvomaan luotettavammin tuotelaatua ennätysajassa. Avainteknologiat tuotevalikoimassamme sisältävät Raman spektroskopian, säädettävän diodilaserabsorptiospektroskopian (TDLAS) ja sammutetun fluoresenssin (QF).

Edut

Prosessien läpinäkyvyys: Optisen analytiikan tuottama data lisää prosessien läpinäkyvyyttä ja mahdollistaa paremman päätöksenteon.
Reaaliaikainen mittaus: Sekunneissa tai minuuteissa toteutuvat mittaukset auttavat minimoimaan seisokit ja hallitsemaan teollisten prosessien käyttökustannuksia.
Laatu ja luotettavuus: Optiset analyysijärjestelmät auttavat asiakkaita optimoimaan keskeisiä teollisia prosesseja ja valvomaan tuotelaatua luotettavasti.
Ei-invasiivinen, kädet vapauttava mittaus: Inline-optinen analyysi mahdollistaa turvallisen, tehokkaan ja rikkomattoman mittauksen ilman näytteen esikäsittelyä.
Korkea laitoksen käytettävyys: Korkea käytettävyys saavutetaan helposti käytettävien ja huollettavien optisten järjestelmien avulla.
Vaatimustenmukaisuus: Päästöjen kohdennettu minimoiminen edellyttää kaasupitoisuuksien luotettavaa analysointia ja seurantaa.

Usein kysytyt kysymykset

Mikä on optinen analyysi?

Optinen analyysi tutkii, miten valo vuorovaikuttaa aineen kanssa kemiallisen koostumuksen tunnistamiseksi ja määrälliseksi määrittämiseksi. Se perustuu sähkömagneettisen säteilyn käyttäytymisen tarkasteluun – erityisesti ultravioletti-, näkyvän ja infrapuna-alueen aallonpituuksilla – silloin kun säteily absorboituu, emittoituu, siroaa tai läpäisee materiaalin.

Tämän tyyppinen optinen analyysi on keskeinen menetelmä esimerkiksi spektroskopiassa, kuvantamisessa ja mikroskopiassa, joissa valon ominaisuuksien ja sen aineen kanssa tapahtuvan vuorovaikutuksen ymmärtäminen paljastaa olennaista tietoa molekyylirakenteesta, koostumuksesta ja dynamiikasta. Optisen analyysin toimintaperiaatteiden ymmärtäminen edellyttää sähkömagneettisen säteilyn luonteen sekä sen ja aineen välisen vuorovaikutuksen tuntemusta.

Mitä on sähkömagneettinen säteily?

Sähkömagneettinen spektri kattaa koko sähkömagneettisen säteilyn taajuus- tai aallonpituusalueen. Sähkömagneettinen säteily luokitellaan aallonpituuden perusteella radioaaltoihin, mikroaaltoihin, infrapunasäteilyyn, näkyvään valoon, ultraviolettisäteilyyn, röntgensäteisiin ja gammasäteisiin.

Sähkömagneettista säteilyä voidaan kuvata energian, aallonpituuden tai taajuuden avulla. Sen käyttäytyminen riippuu aallonpituudesta. Sähkömagneettisella säteilyllä on sekä aalto- että hiukkasluonne. Paikallaan oleva sähkövaraus synnyttää sähkökentän, ja liikkuva varaus tuottaa sekä sähkö- että magneettikentän. Kiihdytetyt sähkövaraukset emittoivat sähkömagneettista säteilyä.

Miten sähkömagneettinen säteily vuorovaikuttaa aineen kanssa?

Sähkömagneettisen säteilyn ja aineen vuorovaikutus voi tapahtua absorption, emission tai sironnan kautta. Vuorovaikutuksen voimakkuus riippuu molekyylin dipolimomentin suuruudesta. Valospektrin eri alueita hyödynnetään erilaisten molekyyli- ja atomitason ominaisuuksien ymmärtämisessä.

Mikä on spektroskopia?

Spektroskopia on sähkömagneettisen säteilyn ja aineen välisen vuorovaikutuksen tutkimusta, jossa tarkastellaan säteilyn absorptiota, emissiota tai sirontaa. Se on ollut keskeinen työkalu atomien ja molekyylien koostumuksen sekä rakenteen ymmärtämisessä.

Mitä ovat spektroskopiatekniikat ja/tai mittausmenetelmät kemialliseen analyysiin?

Vuodesta 2012 lähtien Endress+Hauser on investoinut inline- ja laboratorio-olosuhteissa tapahtuvan optisen analyysin, kaasuanalytiikan ja laboratorioautomaation teknologioihin. Näihin investointeihin kuuluvat SpectraSensorsin, Kaiser Optical Systemsin, Analytik Jenan ja Blue Ocean Nova AG:n yritysostot sekä strateginen kumppanuus SICK AG:n kanssa. Laajentuneessa analytiikkaportfoliossamme tarjoamme kattavan valikoiman spektroskopiaratkaisuja.

Hyödynnämme spektroskopiaa – optista analyysitekniikkaa – atomien ja molekyylien koostumuksen ymmärtämiseen sen spesifisyyden, helppokäyttöisyyden ja kyvyn ansiosta tuottaa syvällistä näkemystä tuotteesta tai prosessista. Kemiallisen analyysin spektroskopiatekniikat käyttävät valoa aineiden koostumuksen, rakenteen tai pitoisuuden tutkimiseen. Endress+Hauserin tarjoamiin spektroskopiatekniikoihin kuuluvat:

Raman-spektroskopia – Havaitsee molekyylivärähtelyt analysoimalla lasersäteilyn sirontaa; soveltuu kemiallisten sidosten ja rakenteiden tunnistamiseen.
Virityskelpoinen diodilaserabsorptiopektroskopia (TDLAS) – Käyttää tietyille aallonpituuksille viritettyä lasersäteilyä kaasupitoisuuksien mittaamiseen erittäin suurella herkkyydellä.
Sammutettu fluoresenssi (QF) – Mittaa virittyneiden molekyylien emittoimaa valoa; menetelmä seuraa luminesenssin voimakkuuden ja hajoamisen muutoksia analyyttien, kuten hapen, havaitsemiseksi.
UV–Vis–NIR-spektrofotometria – Mittaa heijastusta, absorptiota ja läpäisyä ultravioletti-, näkyvän ja lähi-infrapuna-alueen aallonpituuksilla.
Infrapunaspektroskopia (IR) – Analysoi infrapunasäteilyn absorptiota funktionaalisten ryhmien ja molekyylirakenteiden tunnistamiseksi.
Atomiemissio- ja atomiabsorptiospektroskopia – Mittaa atomien emittoimaa tai absorboimaa valoa alkuainekoostumuksen määrittämiseksi.

Nämä optisen analyysin tekniikat perustuvat sähkömagneettisen säteilyn ja aineen väliseen vuorovaikutukseen, mikä tekee niistä tehokkaita työkaluja sekä kvalitatiiviseen että kvantitatiiviseen kemialliseen analyysiin.

Mikä on Raman-spektroskopia?

Raman-spektroskopia on tehokas molekyylispektroskopiatekniikka, joka analysoi yhdisteiden värähtelytiloja ja tarjoaa materiaalien molekyylitason tunnistuksen spektraalianalyysin avulla. Menetelmässä käytetään tyypillisesti näkyvää tai lähi-infrapuna-alueen lasersäteilyä sähkömagneettisen säteilyn lähteenä. Mittaus perustuu fotonien epäelastiseen sirontaan, jota kutsutaan Raman-sironnaksi ja joka syntyy valon vuorovaikuttaessa molekyylien värähtelyjen kanssa.

Toisin kuin absorptioon perustuvat tekniikat, Raman-spektroskopia perustuu valon sirontaan eikä vaadi määriteltyä optista polunpituutta. Menetelmä on herkkä elektronipilven polarisoituvuuden muutoksille valon ja aineen vuorovaikutuksen aikana, minkä vuoksi se soveltuu erityisesti symmetristen sidosten värähtelyjen mittaamiseen.

Kuten muitakin molekyylispektroskopiatekniikoita, Raman-spektroskopiaa käytetään kemiallisen koostumuksen ja molekyylirakenteen tunnistamiseen. Se tarjoaa kuitenkin merkittäviä etuja, kuten korkean spesifisyyden sekä kyvyn mitata vesipohjaisista näytteistä. Prosessisovelluksissa Raman-spektroskopian etuna on lisäksi mahdollisuus skaalata kvantitatiivinen analyysimalli tutkimus- ja kehitystyöstä tuotantoon vähäisellä, mittakaavakohtaisella lisädatalla.

Mikä on ultravioletti–näkyvän valon spektroskopia (UV/Vis)?

UV/Vis-spektroskopia on analyyttinen menetelmä, jossa mitataan aineen kykyä absorboida ultravioletti- ja näkyvää valoa. Menetelmä toimii noin 200–800 nanometrin aallonpituusalueella, ja sitä käytetään yleisesti näytteiden pitoisuuden, kemiallisen rakenteen ja puhtauden määrittämiseen.

UV/Vis-analyysiä hyödynnetään laajasti lääketeollisuudessa, ympäristöanalyyseissä ja kemiallisessa tutkimuksessa, sillä se tarjoaa nopeita ja luotettavia mittaustuloksia.

Mikä on lähi-infrapuna (NIR)?

Lähi-infrapuna (NIR) viittaa sähkömagneettisen spektrin alueeseen, jonka aallonpituudet sijoittuvat noin 780–2500 nanometrin välille. NIR-spektroskopiaa käytetään laajasti optisessa analyysissa kemiallisen koostumuksen tunnistamiseen, materiaalien ominaisuuksien seurantaan sekä rikkomattomaan testaukseen.

Menetelmä on erityisen arvokas esimerkiksi hiilivetyjen prosessoinnissa, lääketeollisuudessa, maataloudessa ja elintarviketeollisuudessa, sillä se mahdollistaa nopeat ja tarkat analyysit ilman näytteen esikäsittelyä.

Mikä on absorptiospektroskopia?

Absorptiospektroskopia mittaa, kuinka näytteen atomit tai molekyylit absorboivat tiettyjä sähkömagneettisen säteilyn aallonpituuksia. Absorptio tapahtuu, kun aine poistaa selektiivisesti tiettyjä taajuuksia säteilystä, mikä paljastaa arvokasta tietoa näytteen koostumuksesta ja pitoisuudesta.

Mikä on virityskelpoinen diodilaserabsorptiospektroskopia (TDLAS)?

TDLAS on infrapunaspektroskopian muoto, joka analysoi absorptiota, joka liittyy molekyylien dipolimomenttien muutoksiin värähtelysiirtymien aikana. Menetelmässä käytetään infrapuna- tai lähi-infrapuna-alueen lasersäteilyä, joka on viritetty mitattavan kaasun yksilöllisille absorptioviivoille, jotta tiettyjen analyyttien pitoisuudet voidaan mitata erittäin suurella tarkkuudella. Tekniikka perustuu Beer-Lambert Law lakiin, joka kuvaa valon absorption suhdetta absorboivan aineen ominaisuuksiin. Beer–Lambertin lakia soveltamalla TDLAS määrittää, kuinka paljon valoa absorboituu tietyillä aallonpituuksilla, mikä mahdollistaa hivenkaasujen tarkan mittaamisen.

Mikä on sammutettu fluoresenssi (QF)?

Sammutettu fluoresenssi (QF), jota kutsutaan myös fluoresenssin sammumiseksi, on optinen menetelmä, jossa mitataan, miten happi vähentää eli ”sammuttaa” molekyylin fluoresenssia. Fluoresenssi tarkoittaa valon luminesenssia, joka syntyy, kun virittynyt molekyyli emittoi valoa lähes välittömästi valon absorption jälkeen.

Menetelmässä käytetään tyypillisesti ultravioletti- (UV) tai näkyvän valon alueen säteilyä sähkömagneettisen säteilyn lähteenä. Tekniikka perustuu fluoresoivien molekyylien virittämiseen ja niiden emittoiman valon mittaamiseen, ja fluoresenssin sammumisen astetta analysoimalla saadaan arvokasta tietoa tiettyjen analyyttien, kuten hapen, läsnäolosta tai pitoisuudesta.